HZKP-V 电缆宽频阻抗谱缺陷定位仪

BIS 介绍
宽频阻抗谱(Broadband impedance spectrum ，BIS)的提出，是为解决传统时域反射法(time domain reflection ，TDR)对电缆微弱局部缺陷进行定位时存在的不足。这是一款自带可充电电池的便携式仪器，属于无损测试系统，通过自行开发的 BIS 测试软件与  硬件的结合，该系统对电缆局部缺陷及中间接头具有较高的识别灵敏度和定位精度，且其定位误差<0.6%。采用频域测量原理，通过入射信号(一段频率步长一定的正弦线  性扫频信号)在阻抗不连续点处发生反射，通过在发射端对反射波(或者是由入射波和反 射波叠加构成的驻波)进行分析，再根据电缆的传播速度计算电缆阻抗不连续点的位置。

BIS 测试系统功能特点
（1）实现无损检测，有效检测距离长，定位精度高，大幅减少人工及运维成本;
（2）检测速度快，单次测试时间不超过 1 分钟,极大提高电缆检修效率;
（3）可完成电缆测距和中间接头缺陷定位，对无台账信息的电缆也可有效完成检测;
（4）可检测因受潮、过热、外力破坏、化学、辐照、水树等厘米级微小缺陷；
（5）操作简单，用户体验好，可针对不同工况设置参数，一键完成检测及定位；
（6）专业的售后服务团队，提供点对点的远程技术支持；
（7）产品体积小，坚固耐用，便于携带，续航时间长。

BIS 测试系统性能参数
（1）有效检测长度：50 米～100 公里；
（2）定位误差：＜0.5%；
（3）扫频范围：5Hz～20MHz；
（4）输出信噪比：＞80dB；
（5）可检测缺陷尺度：米级；总重量＜2kg（含电池）；
（6）输出电压：DC.12V；电池容量：8000mAh；
（7）可工作温度：-15℃~+50℃；可工作湿度：≤80%（相对湿度）；
（8）尺寸：28.3 ㎝×6.1 ㎝×20.5cm（较 A4 纸小）；
（9）可工作时间：＞6 小时，支持快速充电；
（10）架构及系统：基于 ARM cortex 设计，Linux 内核，性能稳定，长时续航；
（11）图谱显示功能：具备频域、时域数据分析功能；具备频域图谱缺陷补偿功 能；
（12）缺陷辅助识别：具备缺陷位置自动寻峰及缺陷严重程度柱状图显示功能；
（13）缺陷标注及报告生成：具备时域，频域及补偿图谱缺陷标注功能，可完成 电缆末端，正常接头及电缆缺陷标注，可对缺陷类型及严重程度分类标注，并自动生 成测试报告。